LCD全套相关资料
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- LCD全套相关资料1. 檢驗外殼表面時，應使用600~800 照度(lux)下，由上方照射之冷白燈光(CWF, cool white fluorescent)下檢查。
2. 殼子必須在距離檢驗員30至45公分距離下，於殼子垂直面夾角+/- 45度內檢查。
3. 檢查外殼一個面必須在10秒內完成。
不良點判定
1. 若是在以上檢驗條件下。發現有不良點時，參考以下之判定規格或飛利浦同意之樣品，做為判退標準。
2. 如果不良情形是: 縮水痕(sink mark), 結合線(welding line、knit line), 噴流紋(splay), 進料口陰影(blush), 進料口(sprue hole), 印刷及其它無法量測之缺陷，則必須以單一情況來討論。所採用之”不良情況”必須經開發部認可，並設置”允收樣品”存留於品管部。
3. 若是在檢驗條件下，無法發現不良，則視為允收。
表面分類定義
1. A 面 :
使用者在操作中一直可以看到的區域，例如前殼正面、電源鍵及功能鍵所在的咬花面。
2. B 面 :
使用者在操作中經常可以看到的區域，例如前殼的上面及左右兩側面。
3. C 面 :
使用者在操作中偶而可以看到的區域，例如後殼前半部的上面與左右兩側面與底座的上表面
4. D 面 :
使用者在操作中很少可以看到的區域，例如前殼底部的咬花面，後殼後半部的其餘面(頂面、側 面、背面)，及機器腳具的表面。
5. E 面 :
使用者在操作中看不到的區域，例如外殼的內部與前殼底部未咬花的光滑面。
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